コモディティ化し、広く普及したPCI Express Gen1～Gen5物理層の計測に関連する規格概要を解説し、Txテストのみならず、必要性が増加しているRxコンプライアンス・テストについてGen1～Gen4のソリューションをご紹介します。プロトコルの概要については、VIAVIソリューションズ株式会社の協力により、トランザクション／データリンク層についてご説明します。また、組込みシステムにも広く利用されるPCI Express Ge2/Gen3について、差動プローブを用いたチップ間インタフェースの測定方法をご紹介します。
| タイトル |
Gen4からGen5へ進化を続けるPCI Express
物理層とプロトコル概要および計測ソリューション 【参加費無料】 |
| 開催日時 |
2019/11/12(火)
13:30～16:50（13:00受付開始） |
| 会場 |
テクトロニクス品川本社6F セミナ・ルーム JR品川駅 港南口からのアクセス |
| 主催社 | テクトロニクス |
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